产品详情
| 产品 | 产品介绍 | 分类 | 关键性能描述 |
| DZ38X系列 | 用于集成电路制造中,,金属铜后清洗的碱性配方型清洗液,,能有效去除表面颗粒、、有机物及金属污染物,,并兼具铜保护功能,,已在存储器件与逻辑器件量产中使用。。 | 金属类化学机械抛光后清洗液 | 产品清洗效果优异,,安全性能高,,,Q-time较高,,,对铜的腐蚀速率低 |
| DZ611 | 用于集成电路制造中,,,金属铜及金属钨CMP后清洗的酸性配方型清洗液,,,,应用覆盖多个工艺节点,,,,能有效去除表面颗粒、、、有机物及金属污染物。。 | 产品清洗效果优异,,,安全性能高,,对铜的腐蚀速率低 | |
| DZ101 | 用于集成电路制造中,,,金属钨和氮化硅CMP后清洗的配方型清洗液,,,在涉及多重材料界面的CMP后清洗工艺中具有良好的清洁表现。。。。产品已在逻辑器件量产中使用。。。。 | 产品对W、、SiN、、、、TEOS、、、TiN和Co等多种材料具有良好的兼容性及清洗效果 | |
| DZ105 | 用于集成电路制造中,,,,金属钨清除沾污的酸性配方型清洗液,,,,旨在针对抛光垫表面清洁,,,用于降低金属栅极工艺的沾污程度。。。。 | 产品对W、、SiN、、、Co、、Al、、Ti、、、、TiN具有极低的腐蚀速率及良好的清洗效果 | |
| DZ4XX系列 | 用于集成电路制造中,,,金属钨CMP后清洗的弱酸型清洗液,,,主要用于金属栅极清洗,,,,已在逻辑器件量产中使用。。。 | 产品在W和TEOS表面拥有很好的清洗性能,,,,同时对W、、SiN、、TEOS、、TiN以及Co拥有良好的材料兼容性。。。 | |
| DZ6XX系列 | 用于集成电路制造中,,金属铝CMP后清洗的酸性清洗液,,具有良好的清洁表现及极低的缺陷率,,已在逻辑器件量产中使用。。 | 产品清洗效果优异,,,与Al、、TEOS等多种材料兼容性佳,,,对铝的腐蚀速率较低。。。。 | |
| DZ1XX系列 | 用于集成电路制造中,,多晶硅和氮化硅 CMP后清洗的配方型清洗液,,应用于抛光垫表面,,能有效去除表面颗粒污染物,,已在逻辑器件量产中使用。。。。 | 非金属类化学机械抛光后清洗液 | 产品兼容Poly-Si、、、、SiN和TEOS,,可以适用于STI、、ILD、、、ILD0以及Poly等制程的辅助清洗 |
关键词:清洗液
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清洗液
主要用于去除残留在晶圆表面的微尘颗粒、、、、有机物、、、、无机物、、、金属离子、、、氧化物等杂质,满足集成电路制造对清洁度的极高要求,对晶圆生产的良率起到了重要的作用。。
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